Friday, November 24, 2017
XIS-6545DV



Astrophysics XIS-6545DV
La XIS-6545DV è un sistema d'ispezione a doppia vista.
È caratterizzata da due generatori in grado di acquisire due differenti immagini prospettiche, che possono essere elaborate indipendentemente, degli oggetti sottoposti a controllo.
La XIS-6545DV consente un’ineguagliabile livello qualitativo nel riconoscimento di oggetti pericolosi.
La dualità dell’immagine fornisce un numero di informazioni maggiori agli operatori e ne aumenta la capacità di flusso.

Caratteristiche Standard
Personalizzazioni e optional
Tabella comparativa


Rispondenza alle vigenti normative, nazionali ed internazionali, per apparecchiature con sorgenti ionizzanti.
Realizzato da: EffemmedueSrl